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增材制造表面粗糙度测量:3D共聚焦多尺度方法

DED和PBF成型表面跟切削纹理两样。熔道、未熔颗粒、飞溅物和孔洞混在一起,尺度跨度宽,单看一档说不清。这正是增材制造表面测量要啃的硬骨头,也是增材制造表面粗糙度测量绕不开的前提。非接触式表面测量因此成了首选。

单一倍率描述不了真实表面。近年多用3D共聚焦显微镜做三维测量,换物镜搭多尺度分析,从形貌做到局部结构提取这也是增材制造表面粗糙度测量与增材制造表面形貌的主流思路



增材制造表面表征的核心挑战

DED和PBF表面由确定性纹理和随机缺陷混成。焊缝跟熔池凝固、扫描路径走,没熔粉末堆成球状突起,凹坑来自熔合不良、球化或微气孔。增材制造表面测量要先分清纹理与缺陷,定好尺度。

接触式探针慢且有划伤风险;光学显微镜景深不够;白光干涉遇大斜率丢数据。非接触式表面测量优势明显—共聚焦激光扫描显微镜正是这类设备代表,但要选对型号。金属增材制造检测离不开多尺度。

多尺度必要:宏观看颗粒分布,中观算粗糙度贡献,微观拆单条焊缝和颗粒尺寸。



多尺度数据采集

基于CLSM的多尺度数据采集a-c为强度图像,d-f为地形高度图.png 

基于CLSM的多尺度数据采集a-c为强度图像,d-f为地形高度图

共聚焦激光扫描显微镜靠针孔挡焦外杂光,Z向逐层扫描拼高度图。不同物镜对应不同视野和分辨率。激光共聚焦显微镜和它说的是同一类设备。

3D共聚焦显微镜硬件连续:5×看全局,10×平衡做3D表面形貌测量,20×抠局部。换物镜不重装夹,数据落同一坐标系。

DED表面粗糙度常超20µm,50×往上用不上——工作距离短,斜率测量受限。所以只取5×、10×、20×三档做增材制造表面粗糙度测量



低分辨率点模式分析

原始表面形貌(a),噪声抑制和形态消除后的S-F表面(b),代表主带宽的L-F表面(c),实施稳健高斯回归滤波后.png 

原始表面形貌(a),噪声抑制和形态消除后的S-F表面(b),代表主带宽的L-F表面(c),实施稳健高斯回归滤波后

5×视野大,把未熔颗粒当空间点。3D共聚焦显微镜在低倍看分布。预处理先高斯滤波,再用稳健回归分波纹和粗糙度,阈值分割取中心。Ripley'sK函数判断点随机、聚集或均匀

结果不完全对称多数尺度曲线落95%蒙特卡洛包络内,整体偏随机。小尺度偶尔聚集或均匀,窗口拉大就稳。表面形貌分析能区分工艺稳不稳。



中分辨率粗糙度表征

提取的S-L表面形貌(a)和无颗粒特征的对应形貌(b).png 

提取的S-L表面形貌(a)和无颗粒特征的对应形貌(b)

10×做ISO25178面积参数。表面拆S-F、L-F(波纹含焊缝)、S-L(粗糙度含颗粒)。激光共聚焦显微镜此尺度最稳。表面形貌分析帮看懂波纹,也量化缺陷密度。中分辨率先算整体,增材制造表面测量拿到第一批参数。参考文章中波纹层占整体粗糙度约六成,去颗粒剩不到三成。所以先压焊缝波动。

20xROI的原始形貌(a);经过表面配准后从10x数据集中提取出的对应ROI(b);归一化互相关的响应(e);20xROI与10xROI形貌之间的差异图(d).png 

20xROI的原始形貌(a);经过表面配准后从10x数据集中提取出的对应ROI(b);归一化互相关的响应(e);20xROI与10xROI形貌之间的差异图(d)

20×配准比对:Sa相对偏差约2%,绝对误差不到0.5µm。Sp、Sv、Sz这些极值差得多,因高NA物镜边缘还原好。统计参数靠这档拿稳值。



高分辨率特征表征

激光共聚焦显微镜高NA边缘还原好。分水岭当地形找山峰鞍部谷底,Wolf修剪去小边界。光学3D测量和接触式互补,非接触式表面测量不伤样。金属增材制造检测靠这类特征提取落地。

修剪阈值取Sz的1%–20%。焊缝片段按质心对齐合并;颗粒在S-L处理。3D打印表面粗糙度常由颗粒主导,增材制造表面形貌可逐个量化3D表面形貌测量补局部几何。增材制造表面测量到这步能定位单颗、算清形貌。

几何参数:投影面积、体积、95%高度、方向角、偏心率、等效直径。焊缝宽用平行短轴线段平均。这些对应熔池宽、残留粒径、搭接。



共聚焦在多尺度表征中的实践优势

三维形貌测量通过非接触方式获取表面高度变化,可以观察熔道、颗粒以及局部缺陷分布。

表面粗糙度评价基于三维高度数据,可以分析Sa、Sq等面积参数,用于比较不同制造工艺或处理方式对表面质量的影响。

局部结构尺寸分析对于颗粒、凹槽以及微结构区域,可以进一步提取高度、宽度和轮廓信息。

增材制造表面粗糙度测量说到底是尺度匹配:低倍看分布,中倍算贡献,高倍拆几何。硬件来自3D共聚焦显微镜,框架由ISO25178确立,特征提取交分水岭。3D表面形貌测量覆盖全尺度,表面形貌分析是闭环基础。增材制造表面粗糙度测量方法正从抽检走向在线多尺度闭环。



光子湾3D共聚焦显微镜

光子湾3D共聚焦显微镜是一款用于对各种精密器件及材料表面,可应对多样化测量场景,符合ISO25178标准测量,能够快速高效完成亚微米级形貌和表面粗糙度的精准测量任务,提供值得信赖的高质量数据。

技术支持:199-6293-0018.png 

技术支持:199-6293-0018

l 超宽视野范围,高精细彩色图像观察

l 提供粗糙度、几何轮廓、结构、频率、功能等五大分析技术

l 采用针孔共聚焦光学系统,高稳定性结构设计

l 提供调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能

光子湾共聚焦显微镜以原位观察与三维成像能力,为精密测量提供表征技术支撑,助力从表面粗糙度与性能分析的精准把控,成为推动多领域技术升级的重要光学测量工具。

原文参考:Multiscale characterization and analysis of additive manufacturing surfaces based on confocal laser scanning microscopy》


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